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GALDEN D02TS
案列介紹
從當(dāng)今國(guó)際市場(chǎng)環(huán)境來(lái)看，從節(jié)省能源、無(wú)鉛無(wú)鹵素、小型、低價(jià)格、高信賴等觀點(diǎn)出發(fā)，新素材、新實(shí)裝方法的研究開(kāi)發(fā)和評(píng)價(jià)方法的重估是必要的。
J-RAS公司把握市場(chǎng)的需要，研發(fā)了新時(shí)代離子急速移動(dòng)實(shí)驗(yàn)裝置ECM-100系列設(shè)備，為您提供容易操作而且可以進(jìn)行高信賴性的評(píng)價(jià)試驗(yàn)。
簡(jiǎn)介：離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE）,經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ION MIGRATION）,并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是OPEN/SHORT試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。